膜厚計レンタル一覧 (比較表/特徴)

膜厚計

膜厚計は、鉄および非鉄金属などの各種被膜を非破壊で測る測定器です。磁性金属と非磁性金属上の被膜厚をプローブの交換で簡単に両方を測れるデュアルタイプ膜厚計、1台で磁性・非磁性金属両方の被膜測定が可能な膜厚計(電磁・渦電流)、コンクリート上の塗装厚やガラス上のゴム厚など非金属上の被膜厚が測れる超音波膜厚計などがございます。

下地として、鉄/非鉄素地用、鉄素地用、非鉄素地用、コンクリート/ガラス/他素地用、コンクリート/モルタル素地用などが測れます。塗装、ライニング、メッキ、陽極酸化被膜、メタリコン、バーカライジグ、酸化膜、溶射膜などに利用します。
膜厚計のレンタルなら、多種多様にレンタル機材が揃う株式会社メジャーへ。全国対応および当日発送可能、最短では翌日から手軽に機材をご利用できます。機材のお問い合わせ、機材の使い方、価格、メーカーなど何でもご相談ください。また、お客様の機器のメンテナンス点検・校正サービスも行っております。

※膜厚計のレンタル機材は29機種ございます。

膜厚計の比較表

名称
型番
デュアルタイプ膜厚計
LZ-300C
デュアルタイプ膜厚計
LZ-330J
デュアルタイプ膜厚計
LZ-370
デュアルタイプ膜厚計
LZ-200C
ケット科学研究所 ケット科学研究所 ケット科学研究所 ケット科学研究所
下地(素地) 鉄、非鉄素地用 鉄、非鉄素地用 鉄素地用 鉄、非鉄素地用
測定方法 電磁誘導式/渦電流式 兼用 電磁誘導式 電磁誘導式/渦電流式 兼用
用途特徴 磁性、非磁性金属上の皮膜測定に対応 鉄素地上の皮膜測定に対応 磁性、非磁性金属上の皮膜測定に対応
測定範囲 〔電磁誘導式〕
0から1500μm
〔渦電流式〕
0から800μm
〔電磁誘導式〕
0から1500μm
〔渦電流式〕
0から1200μm
〔電磁誘導式〕
0から2500μm
〔電磁誘導式〕
0から1500μm
〔渦電流式〕
0から800μm
測定精度 〔50μm未満〕 ±1.0μm
〔50μm以上〕±3%
〔50μm未満〕 ±1.0μm
〔50μm以上〕±2%
〔50μm未満〕 ±1.0μm
〔50μm以上1000μm未満〕±2%
〔1000μm以上〕±3%
〔電磁誘導式〕
15μm未満 ±0.3μm
15μm以上 ±2%
50μm未満 ±0.1μm
50μm以上 ±3%
分 解 能 100μm未満 0.1μm
100μm以上 1.0μm
100μm未満 0.1μm
100μm以上 1.0μm
100μm未満 0.1μm
100μm以上 1.0μm
100μm未満 0.1μm
100μm以上 1.0μm
詳細 機材の詳しい情報 機材の詳しい情報 機材の詳しい情報 機材の詳しい情報
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名称
型番
デュアルタイプ膜厚計
LZ-990
デュアルタイプ膜厚計デュアルスコープ
MPOR
 
ケット科学研究所 フィッシャーインストルメンツ  
掲載されている商品は一部です。ご希望の製品がない場合、お気軽にお問合せ下さい。
 
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下地(素地) 鉄、非鉄素地用 鉄、非鉄素地用  
測定方法 電磁誘導式/渦電流式 兼用 電磁誘導式/渦電流式 兼用  
用途特徴 磁性、非磁性金属上の皮膜測定に対応 磁性、非磁性金属上の皮膜測定に対応  
測定範囲 0から2000μm または 0から80.0mils 〔電磁誘導式〕
0から2000μm
〔渦電流式〕
0から2000μm
 
測定精度 〔50μm未満〕 ±1.0μm
〔50μm以上1000μm未満〕±2%
〔1000μm以上2000μm未満〕±3%
〔50μm以内〕±1.0μm
〔50μm以上1000μm以下〕±2%
〔1000μm以上〕±3%
 
分 解 能 100μm未満 0.1μm
100μm以上 1.0μm
100μm以下 0.1μm
100μm以上 1.0μm
 
詳細 機材の詳しい情報 機材の詳しい情報  
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名称
型番
デュアルタイプ膜厚計
LZ-900J
膜厚計(電磁・渦電流)
SWT-8000II
膜厚計(電磁・渦電流)
SWT-8200
膜厚計
SWT9200
ケット科学研究所 サンコウ電子研究所 サンコウ電子研究所 サンコウ電子研究所
下地(素地) 鉄、非鉄素地用 鉄、非鉄素地用 鉄、非鉄素地用 鉄、非鉄素地用
測定方法 電磁誘導式/渦電流式 兼用
用途特徴 磁性、非磁性金属上の皮膜測定に対応
測定範囲 〔電磁誘導式〕
0から1500μm
〔渦電流式〕
0から1500μm
〔50μm未満〕±1.0μm〔50μm以上〕±2%
〔電磁誘導式〕
0から2500μm
〔渦電流式〕
0から2000μm
〔電磁誘導式〕
0から2500μm
〔渦電流式〕
0から2000μm
鉄素地
0から3.00mm
非鉄金属素地
0から2.50mm
測定精度 〔50μm未満〕±1.0μm
〔50μm以上〕±2%
〔100μm以下〕±1.0μmまたは指示値の±2%
〔101μm以上〕±2%
〔100μm以下〕±1.0μmまたは指示値の±2%
〔101μm以上〕±2%
[100μm以下]±1μm または指示値の±2%以内
(鉄素地)101μmから3.00mm:±2%以内
(非鉄素地)101μmから2.50mm:±2%以内
分 解 能 100μm未満 0.1μm
100μm以上 1.0μm
電磁誘導式:0.01mm
渦電流式:0.01mm
電磁誘導式:0.01mm
渦電流式:0.01mm
1μm:0から999μm
切替により
0.1μm:0から400μm
0.5μm:400から500μm
0.01mm:鉄素地1.00から3.00mm)
(非鉄素地1.00から2.50mm)
詳細 機材の詳しい情報 機材の詳しい情報 機材の詳しい情報 機材の詳しい情報
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名称
型番
電磁膜厚計
LE-300C
デジタル膜厚計
SM-1500D
電磁膜厚計
L-2B
電磁膜厚計Pro-1
電磁膜厚計Pro2
ケット科学研究所 サンコウ電子研究所 ケット科学研究所 サンコウ電子研究所
下地(素地) 鉄素地用 鉄素地用 鉄素地用 鉄素地用
測定方法 電磁誘導式 電磁誘導式(アナログメータ)
用途特徴 鉄素地上の皮膜測定に対応 鉄素地上の皮膜測定に対応
Pro-1 1極式 プローブ
Pro-2 2極式 プローブ
測定範囲 0から1500μm 0から15mm Aレンジ0から500μm
Bレンジ0.3から5mm
0から500μm
0.2から5mm(2列目盛)
測定精度 〔100μm以下〕±1.0μmまたは指示値の±2%
〔101μm以上〕±2%
〔100μm以下〕±1.0μmまたは指示値の±2%
〔101μm以上〕±2%
指示値に対して±5% 均一面に対して±2μmまたは指示値の±5%
分 解 能 100μm未満 0.1μm
100μm以上 1.0μm
0.1mm/0.01mm
(切替)
 -  -
詳細 機材の詳しい情報 機材の詳しい情報 機材の詳しい情報 電磁式膜厚計 Pro-1
機材の詳しい情報

電磁式膜厚計 Pro-2
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ご商談 ご商談 ご商談 電磁式膜厚計 Pro-1
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電磁式膜厚計 Pro-2
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名称
型番
渦電流式膜厚計
EDY-5000
超音波膜厚計
LU-100
超音波膜厚計
ULT-5000
電磁式膜厚計
SL-120C
サンコウ電子研究所 ケット科学研究所 サンコウ電子研究所 サンコウ電子研究所
下地(素地) 非鉄素地用 コンクリート、ガラス、他素地用 コンクリート、モルタル素地用 鉄素地用
測定方法 渦電流式 超音波パルスエコー式 超音波パルス反射式 電磁誘導式
用途特徴 非磁性金属上の皮膜測定に対応 下地がコンクリート上の塗膜厚の測定が可能 2極式 鉄素地上の塗膜、塗装、ライニング、重防食用
測定範囲 0から5.00mm エポキシ:0.8から6.3mm
アクリルゴム:0.4から3.4mm
ポリマーセメント:1.1から5.4mm
鉄:3.9から12.5mm
薄いエポキシ:0.3から2.0mm
薄いアクリルゴム:0.2から1.2mm
FRP系:0.5mmから5.0mm
エポキシ系1:0.5から5mm
エポキシ系2:1.5から6mm
ウレタン系:0.5から6.0mm
I:2から15mm
II:0.2から3mm
III:0から0.3mm(3段目盛)
測定精度 均一面に対して±0.01mmまたは指示値の±2% ±0.5%±0.1mm ±0.1mm 均一面に対して±2μmまたは指示値の±5%
分 解 能 0.01mm:1.00から5.00mm
0.01mm:1.00から5.00mm
0.1mm 0.01mm  -
詳細 機材の詳しい情報 機材の詳しい情報 機材の詳しい情報 機材の詳しい情報
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名称
型番
デュアルタイプ膜厚計
SWT-9000
電磁式膜厚計
SM-1100
電磁膜厚計
LE-370
膜厚計
SWT-8200II
サンコウ電子研究所 サンコウ電子研究所 ケット科学研究所 サンコウ電子研究所
下地(素地) 鉄、非鉄素地用 鉄素地用 鉄素地用 鉄、非鉄素地用
測定方法 電磁式・渦電流式両用 電磁式 電磁誘導式 電磁誘導式/渦電流式 兼用
用途特徴 SWT-9000+FN-325プローブ・・・鉄・非鉄の素地金属を自動で認識・測定 測定範囲は0から8.00mmのワイドレンジ
ライニング/耐火塗料/塗装一般
磁性金属上のメッキ(電解ニッケルメッキは除く)や塗装などの非磁性被膜厚に 磁性、非磁性金属上の皮膜測定に対応
測定範囲 鉄素地:0から3.00mm
非鉄金属素地:0から2.50mm
0から8.00mm 0から2500μmまたは99.0mils 〔電磁誘導式〕
0から2500μm
〔渦電流式〕
0から2000μm
測定精度 鉄素地&非鉄金属素地共通
0から100μm:±1μm または指示値の±2%以内
(鉄素地)101μmから3.00mm:±2%以内
(非鉄金属素地)101μmから2.50mm:±2%以内
均一面に対して±0.01mmまたは指示値の±3% 50μm未満:±1μm
50μm以上1000μm未満:±2%
1000μm 以上:±3%
〔100μm以下〕±1.0μmまたは指示値の±2%
〔101μm以上〕±2%
分 解 能 1μm:0から999μm
切替により
0.1μm:0から400μm
0.5μm:400から500μm
0.01mm:(鉄素地1.00から3.00mm)
(非鉄素地1.00から2.50mm)
0.01mm(1.00から8.00mm)
1μm(0から999μm)
100μm未満:0.1μm、100μm以上:1μm 電磁誘導式:0.01mm 渦電流式:0.01mm
詳細
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名称
型番
デュアルタイプ膜厚計
SWT-NEO
膜厚計(電磁・渦電流)
SME-100
デュアルタイプ膜厚計
6000FN1
渦電流式膜厚計エルコメーター
456NSI1
サンコウ電子研究所 サンコウ電子研究所 JFEアドバンテック エルコメーター
下地(素地) 鉄、非鉄素地用 鉄、非鉄素地用 鉄、非鉄素地用 非鉄素地用
測定方法 電磁式・渦電流式両用 電磁式・渦電流式両用 電磁式・渦電流式両用 渦電流式
用途特徴 専用プローブ(SFN-325)で測定素地金属を自動判別して測定 電磁誘導式プローブ(Mタイプ)、渦電流式プローブ(Eタイプ)の2種類のプローブにより鉄及び非鉄の両金属素地上の皮膜を簡単に測定 プローブと本体一体型のデュアル膜厚計。鉄・非鉄金属上の塗装膜・皮膜など測定可能 金属面の塗装被膜の厚さ測定が可能
測定範囲 鉄素地:0から3.00mm
非鉄金属素地:0から2.50mm
鉄素地:0から3.00mm(1mm未満はμm表示)
非鉄金属素地:0から1000μm
鉄素地:0から1500μm
非鉄素地:0から1500μm
-
測定精度 鉄素地&非鉄金属素地共通
0から100μm:±1μm または指示値の±2%以内
(鉄素地)101μmから3.00mm:±2%以内
(非鉄金属素地)101μmから2.50mm:±2%以内
均一面に対して±1μm又は指示値の±2% 0から50μmの場合 ±(1μm+1%×表示値)
51から1500μmの場合 ±(2μm+1%×表示値)
-
分 解 能 1μm:0から999μm
切替により
0.1μm:0から400μm
0.5μm:400から500μm
0.01mm:(鉄素地1.00から3.00mm)
(非鉄素地1.00から2.50mm)
電磁誘導式:1μm(0から999μm)、0.01mm(1.00から3.00mm)
渦電流式  :1μm(0から1000μm)
共 通:0.1/1μm(100μm未満切替)
1μm(0.0から999μm)
2μm(1000から1500μm)
-
詳細
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名称
型番
電磁式膜厚計
Pro-S
電磁式膜厚計
Pro-W
 
サンコウ電子研究所 サンコウ電子研究所  
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下地(素地) 鉄、非鉄素地用 鉄、非鉄素地用  
測定方法 電磁誘導式 電磁誘導式  
用途特徴 鉄素地上の塗装、ライニングなどの絶縁性皮膜やメッキなど 非磁性金属皮膜の膜厚を非破壊測定
※鋼・フェライト系ステンレス(SUS430など)を含む
鉄素地上の塗装、ライニングなどの絶縁性皮膜やメッキなど 非磁性金属皮膜の膜厚を非破壊測定
※鋼・フェライト系ステンレス(SUS430など)を含む
 
測定範囲 0から500µm ・ 0.2から5mm 0から500µm ・ 0.2から5mm
 
測定精度 均一面に対して±2µmまたは指示値の±5% 均一面に対して±2µmまたは指示値の±5%  
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膜厚計の特徴
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電磁式膜厚計 Pro-W (サンコウ電子研究所 )

No.1

電磁式膜厚計 Pro-W

電磁式膜厚計 Pro-W
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電磁式膜厚計 Pro-Wの特長

  • アナログメーター式
  • 小型(容積比90%)で現場に最適
  • 0~5mmワイドレンジにより薄膜塗装からライニングまで測定可能
  • 特殊磁極プローブ(CVD磁極)により高い耐摩耗性を実現
  • ダイヤルカバーが標準装備により調整点のずれを防ぐ…※温度差、使用環境によるメーター指針のドリフトを防止するものではありません

電磁式膜厚計 Pro-Wの測定項目

膜厚
メーカー:サンコウ電子研究所

電磁式膜厚計 Pro-Wの測定項目

膜厚

メーカー

サンコウ電子研究所
※機材の詳しい情報より
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電磁式膜厚計 Pro-S (サンコウ電子研究所 )

No.2

電磁式膜厚計 Pro-S

電磁式膜厚計 Pro-S
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電磁式膜厚計 Pro-Sの特長

  • アナログメーター式
  • 小型(容積比90%)で現場に最適
  • 0~5mmワイドレンジにより薄膜塗装からライニングまで測定可能
  • 特殊磁極プローブ(CVD磁極)により高い耐摩耗性を実現
  • ダイヤルカバーが標準装備により調整点のずれを防ぐ…※温度差、使用環境によるメーター指針のドリフトを防止するものではありません

電磁式膜厚計 Pro-Sの測定項目

膜厚
メーカー:サンコウ電子研究所

電磁式膜厚計 Pro-Sの測定項目

膜厚

メーカー

サンコウ電子研究所
※機材の詳しい情報より
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渦電流式膜厚計エルコメーター 456NSI1 (エルコメーター )

No.3

渦電流式膜厚計エルコメーター 456NSI1

渦電流式膜厚計エルコメーター 456NSI1
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渦電流式膜厚計エルコメーター 456NSI1の特長

  • 金属面の塗装被膜の厚さ測定
  • スムーズな面や荒れた面などの複数の調整/調節機能
  • メニュー駆動のバックライト付きグラフィックでのイスターフェース
  • 互換性のある各種プローブの取替えが可能(外装型のみ)
  • 簡単な統計機能付き

  • RS232インターフェース
  • 高/低限度付き
  • 単独バッチで250までの読み取り値メモリー


下地:非鉄素地用

渦電流式膜厚計エルコメーター 456NSI1の測定項目

膜厚
メーカー:エルコメーター

渦電流式膜厚計エルコメーター 456NSI1の測定項目

膜厚

メーカー

エルコメーター
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デュアルタイプ膜厚計 6000FN1 (JFEアドバンテック )

No.4

デュアルタイプ膜厚計 6000FN1

デュアルタイプ膜厚計 6000FN1
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デュアルタイプ膜厚計 6000FN1の特長

  • デュアルタイプ(電磁誘導式、渦電流式)で鉄及び非鉄金属上の塗装膜、皮膜の測定が可能
  • 電磁誘導式、渦電流式 自動選択機能付
  • プローブと本体一体型
  • オートパワーオフ機能付
  • 同クラス(センサー本体一体型)の膜厚計で高精度を実現

下地:鉄、非鉄素地用

デュアルタイプ膜厚計 6000FN1の測定項目

膜厚
メーカー:JFEアドバンテック

デュアルタイプ膜厚計 6000FN1の測定項目

膜厚

メーカー

JFEアドバンテック
※機材の詳しい情報より
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膜厚計(電磁・渦電流) SME-100 (サンコウ電子研究所 )

No.5

膜厚計(電磁・渦電流) SME-100

膜厚計(電磁・渦電流) SME-100
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膜厚計(電磁・渦電流) SME-100の特長

  • プローブの差替えだけで、鉄及び非鉄の両金属素地上の皮膜を簡単に測定。
  • ゼロ・標準調整はワンタッチボタンのカンタン操作
  • 鉄・非鉄用の検量線を各1本メモリ
  • 電磁誘導式プローブ(Mタイプ)…鉄素地(鉄・鋼・フェライト系ステンレス)上に処理された塗装、ライニングなどの絶縁性皮膜及び非磁性金属皮膜の厚さを非破壊測定します。
  • 渦電流式プローブ(Eタイプ)…非金属素地(アルミ・アルミ合金・銅・オーステナイト系ステンレス)上の絶縁性皮膜の厚さを測定します。
  • 高性能の2点調整式…JIS K 5600の規格を始め、官公庁、試験場、研究所、各種法人、団体などの規格、内規、基準ならびに  ISO2808、ASTM B499・D1400、などの海外規格にも適合します。

下地:鉄、非鉄素地用

膜厚計(電磁・渦電流) SME-100の測定項目

膜厚
メーカー:サンコウ電子研究所

膜厚計(電磁・渦電流) SME-100の測定項目

膜厚

メーカー

サンコウ電子研究所
※機材の詳しい情報より
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膜厚計(電磁・渦電流) SWT-NEO (サンコウ電子研究所 )

No.6

膜厚計(電磁・渦電流) SWT-NEO

膜厚計(電磁・渦電流) SWT-NEO
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膜厚計(電磁・渦電流) SWT-NEOの特長

  • 日本語表記(キー表記)
  • 単位(mil)への切り替え機能追加
  • LCD画面上に操作手順をガイド表示
  • スリムなボディによる抜群のグリップ感

膜厚計(電磁・渦電流) SWT-NEOの測定項目

膜厚
メーカー:サンコウ電子研究所

膜厚計(電磁・渦電流) SWT-NEOの測定項目

膜厚

メーカー

サンコウ電子研究所
※機材の詳しい情報より
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デュアルタイプ膜厚計 LZ-990 (ケット科学研究所 )

No.7

デュアルタイプ膜厚計 LZ-990

デュアルタイプ膜厚計 LZ-990
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デュアルタイプ膜厚計 LZ-990の特長

・デュアルタイプ(電磁・渦電流式兼用)の膜厚計
・素地の自動判別機能を搭載
・アプリケーションメモリ(検量線メモリ)機能搭載
・V字カットのセンサガイド
・データ出力端子を装備
・多彩な機能を装備

デュアルタイプ膜厚計 LZ-990の測定項目

膜厚
メーカー:ケット科学研究所

デュアルタイプ膜厚計 LZ-990の測定項目

膜厚

メーカー

ケット科学研究所
※機材の詳しい情報より
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膜厚計 SWT-8200II (サンコウ電子研究所 )

No.8

膜厚計 SWT-8200II

膜厚計 SWT-8200II
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膜厚計 SWT-8200IIの特長

電磁式:0~2.50mm
渦電流式:0~2.00mm

膜厚計 SWT-8200IIの測定項目

膜厚
メーカー:サンコウ電子研究所

膜厚計 SWT-8200IIの測定項目

膜厚

メーカー

サンコウ電子研究所
※機材の詳しい情報より
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膜厚計 SWT9200 (サンコウ電子研究所 )

No.9

膜厚計 SWT9200

膜厚計 SWT9200
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膜厚計 SWT9200の特長

鉄、非鉄の素地金属に対応。

膜厚計 SWT9200の測定項目

膜厚
メーカー:サンコウ電子研究所

膜厚計 SWT9200の測定項目

膜厚

メーカー

サンコウ電子研究所
※機材の詳しい情報より
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電磁膜厚計 LE-370 (ケット科学研究所 )

No.10

電磁膜厚計 LE-370

電磁膜厚計 LE-370
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電磁膜厚計 LE-370の特長

小型・軽量のコンパクトボディ。
多機能を搭載。

電磁膜厚計 LE-370の測定項目

磁性金属上のメッキ(電解ニッケルメッキは除く)や塗装などの非磁性被膜厚に
下地:鉄素地用
メーカー:ケット科学研究所

電磁膜厚計 LE-370の測定項目

磁性金属上のメッキ(電解ニッケルメッキは除く)や塗装などの非磁性被膜厚に
下地:鉄素地用

メーカー

ケット科学研究所
※機材の詳しい情報より
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デュアルタイプ膜厚計 LZ-300C (ケット科学研究所 )

No.11

デュアルタイプ膜厚計 LZ-300C
デュアルタイプ膜厚計 LZ-300C
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デュアルタイプ膜厚計 LZ-300Cの特長

鉄および非鉄金属上の各種被膜を非破壊で迅速・正確に測定します
小さな機械部品から巨大建造物まで測定できる膜厚計です
薄いメッキから厚手の塗装まで測定可能
下地の金属は鉄でも非鉄(アルミ・銅など)でも可
キャリブレーション・メモリ機能
下地:鉄、非鉄素地用

デュアルタイプ膜厚計 LZ-300Cの測定項目

膜厚測定・膜厚計測
メーカー:ケット科学研究所

デュアルタイプ膜厚計 LZ-300Cの測定項目

膜厚測定・膜厚計測

メーカー

ケット科学研究所
※機材の詳しい情報より
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膜厚計(電磁・渦電流) SWT-8000II (サンコウ電子研究所 )

No.12

膜厚計(電磁・渦電流) SWT-8000II

膜厚計(電磁・渦電流) SWT-8000II
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膜厚計(電磁・渦電流) SWT-8000IIの特長

● 測定用途に合わせ接続プローブの選択が可能。
● スリムなボディによる抜群のグリップ感。
● LCD画面上に操作手順をガイド表示。
● 4つのキーによる簡単安心操作。
下地:鉄、非鉄素地用

膜厚計(電磁・渦電流) SWT-8000IIの測定項目

● 塗装/ライニング/メッキ
● アルマイトなどの絶縁性皮膜
メーカー:サンコウ電子研究所

膜厚計(電磁・渦電流) SWT-8000IIの測定項目

● 塗装/ライニング/メッキ
● アルマイトなどの絶縁性皮膜

メーカー

サンコウ電子研究所
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デュアルタイプ膜厚計 SWT-9000 (サンコウ電子研究所 )

No.13
鉄・非鉄の自動認識

デュアルタイプ膜厚計 SWT-9000

デュアルタイプ膜厚計 SWT-9000
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デュアルタイプ膜厚計 SWT-9000の特長

・SWT-9000+FN-325プローブ・・・鉄・非鉄の素地金属を自動で認識・測定。
下地:鉄、非鉄素地用

デュアルタイプ膜厚計 SWT-9000の測定項目

膜厚計
メーカー:サンコウ電子研究所

デュアルタイプ膜厚計 SWT-9000の測定項目

膜厚計

メーカー

サンコウ電子研究所
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デュアルタイプ膜厚計 LZ900J (ケット科学研究所 )

No.14

デュアルタイプ膜厚計 LZ900J
デュアルタイプ膜厚計 LZ900J
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デュアルタイプ膜厚計 LZ900Jの特長

デュアルタイプ膜厚計 LZ900Jは、通常の膜厚管理に応える基本性能を持つ、操作が簡単な小型膜厚計で、磁性体もしくは非磁性体に施されたペイント厚やメッキおよびアルマイト被膜厚等の測定用です。
下地:鉄、非鉄素地用

デュアルタイプ膜厚計 LZ900Jの測定項目

膜厚測定・膜厚計測
メーカー:ケット科学研究所

デュアルタイプ膜厚計 LZ900Jの測定項目

膜厚測定・膜厚計測

メーカー

ケット科学研究所
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デュアルタイプ膜厚計 デュアルスコープ MP0R (フィッシャーインストルメンツ )

No.15

デュアルタイプ膜厚計 デュアルスコープ MP0R
デュアルタイプ膜厚計 デュアルスコープ MP0R
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デュアルタイプ膜厚計 デュアルスコープ MP0Rの特長

どのような測定ポジションからえも測定値を読み取れるバックライト付きの2つのディスプレイを備えた人間工学的設計。
上/下限設定できる膜厚計です
本体と一体化された定圧式デュアルプローブにより、少ない接触力で一定した値が得られます。
測定異常または、測定範囲を超えた場合、可視、可聴信号が出ます。
測定値1,000件までのメモリーが、電源オフでも保持されます。
測定方式が電磁方式か、過電流方式か自動選択されます。
下地:鉄、非鉄素地用

デュアルタイプ膜厚計 デュアルスコープ MP0Rの測定項目

膜厚測定・膜厚計測
メーカー:フィッシャーインストルメンツ

デュアルタイプ膜厚計 デュアルスコープ MP0Rの測定項目

膜厚測定・膜厚計測

メーカー

フィッシャーインストルメンツ
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膜厚計(電磁・渦電流) SWT-8200 (サンコウ電子研究所 )

No.16

膜厚計(電磁・渦電流) SWT-8200

膜厚計(電磁・渦電流) SWT-8200
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膜厚計(電磁・渦電流) SWT-8200の特長

・スリムなボディ設計で手持ち作業の疲労低減
・わかりやすいガイド表示画面
・パソコンへのデータ転送
・大容量の測定値メモリ機能
・検両線登録機能
・上限値/下限値リミット機能
・統計機能内蔵
下地:鉄、非鉄素地用

膜厚計(電磁・渦電流) SWT-8200の測定項目

電磁式プローブ使用時
塗装(●機器 ●自動車 ●船舶 ●橋梁 ●鉄鋼構造物など)
ライニング(●樹脂 ●タールエポキシ ●ゴム ●ホーロー ●シート(
メッキ(●亜鉛 ●銅 ●クローム ●スズなど)
メタリコン、バーカライジグ、酸化膜、溶射膜など
過電流式プローブ使用時
塗装(●アルミ製品 ●ステンレス製の内外装建材 ●機械 ●タンクなど)
陽極酸化被膜(●アルミ製品(アルマイト) ●アルミサッシ ●台所用品 ●家電製品など)
ライニング(●各種機器 ●部品 ●化学ブランドなど)
メーカー:サンコウ電子研究所

膜厚計(電磁・渦電流) SWT-8200の測定項目

電磁式プローブ使用時
塗装(●機器 ●自動車 ●船舶 ●橋梁 ●鉄鋼構造物など)
ライニング(●樹脂 ●タールエポキシ ●ゴム ●ホーロー ●シート(
メッキ(●亜鉛 ●銅 ●クローム ●スズなど)
メタリコン、バーカライジグ、酸化膜、溶射膜など
過電流式プローブ使用時
塗装(●アルミ製品 ●ステンレス製の内外装建材 ●機械 ●タンクなど)
陽極酸化被膜(●アルミ製品(アルマイト) ●アルミサッシ ●台所用品 ●家電製品など)
ライニング(●各種機器 ●部品 ●化学ブランドなど)

メーカー

サンコウ電子研究所
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デュアルタイプ膜厚計 LZ-370 (ケット科学研究所 )

No.17

デュアルタイプ膜厚計 LZ-370

デュアルタイプ膜厚計 LZ-370
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デュアルタイプ膜厚計 LZ-370の特長

・小型・軽量のコンパクトボディ。
・膜厚管理で必要とする機能を網羅し装備しています。(多機能を搭載)
下地:鉄、非鉄素地用

デュアルタイプ膜厚計 LZ-370の測定項目

磁性金属上および非磁性金属上の被膜厚の測定
メーカー:ケット科学研究所

デュアルタイプ膜厚計 LZ-370の測定項目

磁性金属上および非磁性金属上の被膜厚の測定

メーカー

ケット科学研究所
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デュアルタイプ膜厚計 LZ-330J (ケット科学研究所 )

No.18

デュアルタイプ膜厚計 LZ-330J
デュアルタイプ膜厚計 LZ-330J
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デュアルタイプ膜厚計 LZ-330Jの特長

デュアルタイプ膜厚計LZ330Jは、磁性金属上に施された被膜厚もしくは、非磁性金属上の絶縁被膜厚を測定うることができるデュアルタイプ膜厚計です。
小型軽量のボディにリミット設定機能、統計処理、プリンタ対応などの多機能をハイブリット化、しかもキャリブレーション・メモリの採用で、測定ごとの調整からも解放されます。
下地:鉄、非鉄素地用

デュアルタイプ膜厚計 LZ-330Jの測定項目

膜厚測定・膜厚計測
メーカー:ケット科学研究所

デュアルタイプ膜厚計 LZ-330Jの測定項目

膜厚測定・膜厚計測

メーカー

ケット科学研究所
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デュアルタイプ膜厚計 LZ-200C (ケット科学研究所 )

No.19

デュアルタイプ膜厚計 LZ-200C

デュアルタイプ膜厚計 LZ-200C
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デュアルタイプ膜厚計 LZ-200Cの特長

○電磁式と高周波式の両機能を備え、しかもプリンタを内蔵したポータブルタイプの膜厚計です。
○磁性体及び非磁性金属上のさまざまな被膜厚測定に素早く対応します。
○ボタン1つで平均値・標準偏差・最大値・最小値が求めれる統計計算機能、キャリブレーション・メモリ機能、リミット設定機能などを装備しています。
下地:鉄、非鉄素地用

デュアルタイプ膜厚計 LZ-200Cの測定項目

膜厚測定・膜厚計測
メーカー:ケット科学研究所

デュアルタイプ膜厚計 LZ-200Cの測定項目

膜厚測定・膜厚計測

メーカー

ケット科学研究所
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電磁膜厚計 L2B (ケット科学研究所 )

No.20

電磁膜厚計 L2B
電磁膜厚計 L2B
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電磁膜厚計 L2Bの特長

2点接触型膜厚計
薄いメッキや塗装、屋外タンクの内張、建造物・車両・船舶などの厚い塗装など、いろいろな塗装の厚さをスピーディに測定する電磁膜厚計です。
非破壊式なので、塗装表面を傷つけることもありません。
電源は乾電池ですから、現場での測定に大変便利です。
下地:鉄素地用

電磁膜厚計 L2Bの測定項目

膜厚測定・膜厚計測
メーカー:ケット科学研究所

電磁膜厚計 L2Bの測定項目

膜厚測定・膜厚計測

メーカー

ケット科学研究所
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電磁式膜厚計 Pro-2 (サンコウ電子研究所 )

No.21

電磁式膜厚計 Pro-2

電磁式膜厚計 Pro-2
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電磁式膜厚計 Pro-2の特長

現場用高性能膜厚計として、官公庁、試験場、大会社の企画、基準、内規に適合しています。
下地:鉄素地用

電磁式膜厚計 Pro-2の測定項目

・塗装/ライニング
・一般用
メーカー:サンコウ電子研究所

電磁式膜厚計 Pro-2の測定項目

・塗装/ライニング
・一般用

メーカー

サンコウ電子研究所
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電磁式膜厚計 SL-120C (サンコウ電子研究所 )

No.22

電磁式膜厚計 SL-120C

電磁式膜厚計 SL-120C
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電磁式膜厚計 SL-120Cの特長

・3段目盛で薄い膜から厚い膜まで1台で測定できます。
・特に厚い膜は15mmまで測定できます。
下地:鉄素地用

電磁式膜厚計 SL-120Cの測定項目

・塗装/ライニング/重防食用
・一般用
メーカー:サンコウ電子研究所

電磁式膜厚計 SL-120Cの測定項目

・塗装/ライニング/重防食用
・一般用

メーカー

サンコウ電子研究所
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電磁式膜厚計 Pro-1 (サンコウ電子研究所 )

No.23

電磁式膜厚計 Pro-1

電磁式膜厚計 Pro-1
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電磁式膜厚計 Pro-1の特長

現場用高性能膜厚計として、官公庁、試験場、大会社の企画、基準、内規に適合しています。
下地:鉄素地用

電磁式膜厚計 Pro-1の測定項目

・塗装/ライニング
・一般用
メーカー:サンコウ電子研究所

電磁式膜厚計 Pro-1の測定項目

・塗装/ライニング
・一般用

メーカー

サンコウ電子研究所
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電磁膜厚計 LE-300C (ケット科学研究所 )

No.24

電磁膜厚計 LE-300C

電磁膜厚計 LE-300C
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電磁膜厚計 LE-300Cの特長

磁性体上のメッキ(電解メッキは、除く)、塗料、ライニングなど、多様な皮膜を短時間で精度よく測定します。
下地:鉄素地用

電磁膜厚計 LE-300Cの測定項目

メーカー:ケット科学研究所

電磁膜厚計 LE-300Cの測定項目


メーカー

ケット科学研究所
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デジタル膜厚計 SM1500D (サンコウ電子研究所 )

No.25

デジタル膜厚計 SM1500D
デジタル膜厚計 SM1500D
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デジタル膜厚計 SM1500Dの特長

2点調整式膜厚計
鉄素地上のライニング膜、溶射膜など、比較的厚い皮膜厚を測定します
ライニング膜(樹脂、ゴム、アスファルト、モルタルなど)/非磁性金属の溶射膜、メタリコン、爆着など/ガラス・板紙・FRP成形品などの肉厚(鉄板を基板として測定)
15mmまでの厚膜測定レンジを、分解能切り替えにより0.1mm/0.01mmでデジタル表示し、高精度の測定が可能です。
測定対象物の膜厚を上限値、下限値で設定可能。目標値よりも不足、またはオーバーしている場合にはアラーム音で警告します。
一点定圧式プローブの磁極は、超耐摩耗性のCVD処理磁極を採用。ハードな使用にも長時間、初期特性と高い再現性を維持します。
見やすいデジタル表示(Digital)の電磁式デジタル膜厚計です
下地:鉄素地用

デジタル膜厚計 SM1500Dの測定項目

膜厚測定・膜厚計測
メーカー:サンコウ電子研究所

デジタル膜厚計 SM1500Dの測定項目

膜厚測定・膜厚計測

メーカー

サンコウ電子研究所
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電磁式膜厚計 SM-1100 (サンコウ電子研究所 )

No.26

電磁式膜厚計 SM-1100

電磁式膜厚計 SM-1100
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電磁式膜厚計 SM-1100の特長

・測定範囲は0〜8.00mmのワイドレンジ。
・ゼロ・標準調整がワンタッチボタンの簡単操作。
下地:鉄素地用

電磁式膜厚計 SM-1100の測定項目

メーカー:サンコウ電子研究所

電磁式膜厚計 SM-1100の測定項目


メーカー

サンコウ電子研究所
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渦電流式膜厚計 EDY-5000 (サンコウ電子研究所 )

No.27

渦電流式膜厚計 EDY-5000

渦電流式膜厚計 EDY-5000
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渦電流式膜厚計 EDY-5000の特長

・小さく、軽い、コンパクトボディに大きなLCD表示。
・カンタン操作のカードキーとキーレイアウト。
・0〜5.00mmのワイドレンジ。
下地:非鉄素地用

渦電流式膜厚計 EDY-5000の測定項目

メーカー:サンコウ電子研究所

渦電流式膜厚計 EDY-5000の測定項目


メーカー

サンコウ電子研究所
※機材の詳しい情報より
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超音波膜厚計 LU100 (ケット科学研究所 )

No.28

超音波膜厚計 LU100
超音波膜厚計 LU100
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超音波膜厚計 LU100の特長

非金属上の塗装膜厚の測定用として、日本建築仕上学会のご指導のもとに開発された超音波膜厚計。コンクリート・モルタル・木材などを扱う建築塗装の現場向き
測定方式:超音波パルスエコー方式
測定対象被膜:エポキシ、アクリルゴム、ポリマーセメント、鉄など
測定対象下地:コンクリート、アクリルゴム、スレート、木材、ガラス、鉄
下地:コンクリート、ガラス、他素地用

超音波膜厚計 LU100の測定項目

膜厚測定・膜厚計測
メーカー:ケット科学研究所

超音波膜厚計 LU100の測定項目

膜厚測定・膜厚計測

メーカー

ケット科学研究所
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超音波膜厚計 ULT5000 (サンコウ電子研究所 )

No.29

超音波膜厚計 ULT5000
超音波膜厚計 ULT5000
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超音波膜厚計 ULT5000の特長

4チャンネル・3モードの測定可能な超音波膜厚計
回路方式はFRP系、エポキシ系、エポキシ+パウダ混合系、ウレタン系の4種
測定はコンクリート上の施工皮膜・スレート板上の皮膜・木材上の皮膜及び樹脂単体の厚さの3特性モードに幅広く対応しています
下地:コンクリート、モルタル素地用

超音波膜厚計 ULT5000の測定項目

膜厚測定・膜厚計測
メーカー:サンコウ電子研究所

超音波膜厚計 ULT5000の測定項目

膜厚測定・膜厚計測

メーカー

サンコウ電子研究所
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膜厚計の測定に関するアドバイス

膜厚計とは

膜厚計(Film Thickness Gauge)は、薄膜の厚さを非破壊的に測定するための装置です。薄膜の厚さはさまざまな産業やアプリケーションで重要な要因であり、膜厚計はその測定に幅広く使用されます。鉄及び非鉄金属などの各種皮膜物質を破壊することなく測ることができるのが膜厚計です。膜厚計には様々な種類があり、例えば磁力を帯びた金属と帯びていない金属上の被膜圧厚のプローブを交換することで簡単に両方を計れるデュアルタイプ膜厚計、1台だけで磁性・非磁性金属両方の膜厚を測ることができる膜厚計(電磁・渦電流)、ガラス上のゴム厚やコンクリート上の塗装厚など金属でないものの被膜圧が測れる超音波膜厚計などがあります。下地としましては、下地として、鉄/非鉄素地用、鉄素地用、非鉄素地用、コンクリート/ガラス/他素地用、コンクリート/モルタル素地用などの計測が可能です。塗装、メッキ、ライニング、メタリコン、陽極酸化被膜、酸化膜、バーカライジグなどに使用されています。


塗装の厚みを測る意味

工業製品が状態を維持するためには、さまざまに工夫をしていく必要があります。方法の一つとして、耐久性を維持するために塗装をしていくことが挙げられます。塗装をするのは製品を美観を高めるだけではないのです。塗装をした後に、塗料が乾燥して膜になって残ります。この厚みを一般的には膜厚、正式名称で呼ぶのであれば塗膜厚といいます。
一度塗装をすると、一見しただけだとどの程度塗られたのかは分かりません。耐久性を考慮すればある程度の厚みがなければ耐えられませんが、過剰に厚くなると塗装自体が割れてしまう事態になります。この原因としては、乾燥する際に収縮するためで、必要な厚みを確保することは大切ですが、必要以上の厚さは逆効果です。製品の膜厚から起こる欠陥はその他には、縮みやつやの不足・不良、色むらなどがあります。そのため、管理を工程の中でする必要があります。
膜厚を見た目でコントロールすることはまず不可能です。厚みの単位はμmと非常に小さい単位であるからです。そこで膜厚計が必要になります。膜厚計は、対象となる材料によって使い方が変わってきます。例えば、電磁式の膜厚計は、材料が磁石につくかどうかで測定できるかが決まってくるため、適切な組み合わせと使用方法で計測をすることが必要になってきます。特性をよく理解し、確実に計測ができる状況を作ることが必要です。
また、新しい製品だけでなく、すでにある製品に対しても現在の膜厚はどうであるかを考える必要があります。物質はどのようなものでも製造した状況のままではなく、時間がたつにつれ塗装が劣化していくので、現在の膜厚が基準を満たしているかどうかを計測しなくてはなりません。膜厚計は、塗装に関しての多くの場面で活躍します。


磁石の力を使う電磁式と電流で測る過流式

塗装の塗膜を計測する膜厚計はさまざまな種類があります。それぞれ使い方が異なるだけでなく、対象となる部材も違います。そのためどのような製品に対して塗装をしたかが重要になってきます。使われている部材が鉄や鋼、ステンレスの一部といった磁性体の場合は、磁石を使うことができます。磁石を近づけると、一定の強さによって引っ張られる力を利用しているのが電磁式膜厚計です。
使い方は、測定したい部分に対してプローブを接触させ、電流の値を測るというものです。考え方としては単純で、塗膜が薄いのなら、部材との距離が近いので磁石に流れる電流が大きくなります。逆に厚くなれば、磁石を流れる電流量は少なくなります。このような性質を利用して測定する方法をとっています。塗膜を測るというよりも、磁石の力を計り厚みとして値に変えると考えれば分かりやすいと思います。ただし塗膜自体に磁石を引っ張る力が働いていると、正確な測定値が出ません。磁器を帯びた塗料もあれば、どんな材料を使っているかを事前に確認しておく必要があります。
過流式膜厚計は、アルミや銅などの非磁性金属、すなわち磁石に引っ張られない部材に使われるタイプです。磁石ではなくプローブにコイルが入っています。接触させたときに発生する渦状の電流を測定し、塗膜がどれだけの厚みを持つのかを測るしくみです。
部材との距離が近いのであれば、金属の表面上に過電流が強く生じますが、厚くなれば弱まるという性質を利用します。電気を通さないことが塗膜の条件です。接触式と非接触式があり、幅広く使える方法であり、ゴム塗膜といった絶縁性被膜でも有効に使えます。


赤外線や超音波などで計測する

赤外線塗膜計という光を使って測定する膜厚計もあります。工業分野では多くの光が使われていますが、赤外線を当てることで得られるスペクトルを分析します。赤外線の吸収率は素材によって違いますが、その赤外線がどこまで吸収されるか計算することで膜厚を算出します。外的な要因による影響、例えば塗膜の色の濁りなどを少なくする方法がとられるようになっています。
その他には超音波が利用されている機種もあります。使い方としては、プローブを接触させるところまでは同じですが、プローブからセンサーを発信し、下地に当たり反射する時間により厚みが分かる仕組になっています。この速度は材質によって変わるため、大まかな値を求めて調整する必要があります。
超音波膜厚計には膜厚をそのまま測る用途だけでなく、橋梁の鋼材部などで腐食状態を調べるときにも使います。検査をする時には、塗装をはがして状況を確認するわけにはいきませんが、超音波ならば問題なく計測をすることが可能です。膜厚と腐食状態を推定することにより、今後の予定を決めることができます。破壊することが難しい場所で、塗装された部材は現状どうなっているかを見極める際に役立つ計器です。
デュアル式と呼ばれる方法もあり、こちらは電磁式と過流式の二つを搭載して計測する方法です。使い方は大きく変わらないですが、両方搭載していることで便利につかうことができます。磁性体・非金属ともに利用できるのが大きな特徴です。非磁性塗膜にも使用できるために、有効な計測方法として使われています。
※今すぐ膜厚計を利用したい場合はレンタルが便利です。レンタルなら最短当日発送ができ、到着後、取扱説明書も同封しておりますのですぐご利用できます。使い方がわからない場合は弊社の機材サポートが対応させて頂きます。お気軽にお問い合わせください。


膜厚計の主な用途を紹介します。


・半導体製造: 半導体産業では、薄膜の厚さが非常に厳密に制御されており、膜厚計は半導体ウェハーやデバイスの製造において必要不可欠なツールです。薄膜の厚さを正確に測定することで、デバイスの性能や信頼性を確保します。

・表面処理: 表面処理プロセスでは、薄膜のコーティングや皮膜の形成が行われます。膜厚計は、コーティングの均一性や正確さを評価し、製品の品質を向上させます。例えば、自動車の塗装やガラスコーティングにおいて使用されます。

・薄膜技術: 薄膜技術は光学、電子、センサー、エネルギー変換デバイスなどの分野で広く利用されており、膜厚計はこの技術の研究、開発、製造に欠かせません。例えば、太陽電池パネルの薄膜層の厚さを測定する際に使用されます。

・製造業: 膜厚計は金属、セラミック、ポリマーなどの薄膜コーティング製品の製造において品質管理に役立ちます。例えば、鏡やレンズのコーティング、包装材料のバリア層の測定などがあります。

・材料研究: 研究室や大学で、新しい材料や薄膜の性質を評価するために膜厚計が使用されます。材料の光学特性、電子特性、熱特性などを調査し、新しい応用分野の開発に寄与します。

・医療機器: 医療機器の製造や研究において、薄膜コーティングの厚さが重要です。膜厚計は、人工関節、医療用センサー、バイオセンサーなどの製品の品質管理に使用されます。

膜厚計は、薄膜の厚さが制御される必要があるあらゆる分野で幅広く活用されており、製品の品質向上や新しい技術の発展に貢献しています。
測定器技術資料膜厚計機能比較一覧表 膜厚測定Q&A

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「この場合はどの機材を使えばいいの?」にお答えします! 最短翌日レンタル可能!スピードには定評があります。

膜厚計に関するお問合せ

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