膜厚計(電磁・渦電流) SWT-NEO II レンタル
| 機材名称 | 膜厚計(電磁・渦電流) |
|---|---|
| 型番 | SWT-NEO II |
| メーカー | サンコウ電子研究所 |
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| 機材名称 | 膜厚計(電磁・渦電流) |
|---|---|
| 型番 | SWT-NEO II |
| メーカー | サンコウ電子研究所 |
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膜厚計(電磁・渦電流) SWT-NEO IIのレンタル事例
- 塗装 / ライニング / メッキ、アルマイトなどの絶縁性皮膜に
膜厚計(電磁・渦電流) SWT-NEO II【サンコウ電子研究所】の特徴
- ・日本語表記(キー表記)
- ・単位(mil)への切り替え機能追加
- ・LCD画面上に操作手順をガイド表示
- ・検量線登録機能
- ・上限値/下限値リミット機能
- ・大容量の測定値メモリ機能
- ・スリムなボディによる抜群のグリップ感
膜厚計(電磁・渦電流) SWT-NEO II【サンコウ電子研究所】の仕様
| 表示方式 | グラフィックLCD |
|---|---|
| 検量線校正 | 2点校正式(ゼロ点、標準調整点) |
| 検量線設定・保存 | 最大10本 |
| 測定データメモリ | 最大20,000データ |
| データ転送 | USB |
| 統計機能 | 本体内蔵 |
| 電源 | 単3アルカリ乾電池 (1.5V)×2 連続使用時間（25時間※） ACアダプタ オートパワーオフ機能付 ※最大（使用条件により変わることがあります。） |
| 使用温度 | 0~40℃ (結露しないこと) |
| 機体サイズ | 72(W)×32(H)×156(D)mm |
| 重量 | 約200g(電池含む) |
| ■プローブ | |
| 型式 | SFN-325 |
| 測定方式 | 電磁誘導式・渦電流式両用(鉄・非鉄素地自動判別) |
| 測定範囲 | 鉄素地0~3.00mm、非鉄素地0~2.50mm |
| 表示分解能 | 1µm0~999µm 0.01mm1.00~3.00mm(鉄素地)、1.00~2.50mm(非鉄素地) 切替えにより 0.1µm0~400µm 0.5µm400~500µm |
| 測定精度(平滑面に対して) | 0 ~100µm±1µmまたは指示値の±2%以内 101µm~3.00mm 指示値の±2%以内(鉄素地) 101µm ~2.50mm指示値の±2%以内(非鉄素地) |
| 寸法 | 約φ15×51mm |
| 測定対象 | 鉄素地鉄・鋼などの磁性金属素地上の塗装、ライニング、溶射膜、めっき(電解ニッケルめっきを除く)など 非鉄素地アルミ、銅など非磁性金属素地上の絶縁性皮膜など比較的汎用な測定物用 |
[オプション]厚物用プローブ（鉄素地用） SFe-20
| 説明 | ・SWT-NEO対応の電磁誘導式プローブです。 |
|---|---|
| 測定方式 | 電磁誘導式 |
| 測定範囲 | 0 ~ 20mm |
| 表示分解能 | 1μm： 0~999μm、0．01mm： 1~5mm、0．1mm： 5~20mm |
| 測定精度 (平滑面に対して) | 0 ~ 3mm： ±（5μm＋指示値の 3％） 3．01mm 以上： 指示値の ±3％以内 |
| プローブ | 1 点定圧接触式 Ｖカット付 約φ35×55mm |
| 付属品 | 標準厚板、テスト用ゼロ板（鉄用） |
| 測定対象 | 鉄・鋼などの磁性金属素地上の厚い塗装、ライニングなど |
| サンコウ電子研究所 | |
| 厚物用プローブ（鉄素地用） SFe-20 |
 |
[オプション]厚物用プローブ（非鉄素地用） SNfe-8
| 説明 | ・SWT-NEO対応の渦電流式プローブです。 |
|---|---|
| 測定方式 | 渦電流式 |
| 測定範囲 | 0 ~ 8．00mm |
| 表示分解能 | 1μm： 0~999μm、0．01mm： 1~8mm |
| 測定精度 (平滑面に対して) | 0 ~ 3mm： ±（5μm＋指示値の 3％）、3．01mm 以上： 指示値の ±3％以内 |
| プローブ | １点定圧接触式 Ｖカット付 約φ35×59mm |
| 付属品 | 標準厚板、テスト用ゼロ板（非鉄用） |
| 測定対象 | アルミニウム、銅など非磁性金属素地上の絶縁性皮膜など比較的厚物の測定物用、ウレタン塗膜防水用 |
| サンコウ電子研究所 | |
| 厚物用プローブ（非鉄素地用） SNfe-8 |
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[オプション]SWT-NEOシリーズ オプションプローブ SFe-0.6Pen
| 説明 | ・SWT-NEO対応の電磁誘導式プローブです。 |
|---|---|
| 測定方式 | 電磁誘導式 |
| 測定範囲 | 0 ~ 600μm |
| 表示分解能 | 1μm： 0 ~ 600μm 切替えにより 0．1μm： 0 ~ 400μm 0．5μm： 400 ~ 500μm |
| 測定精度 (平滑面に対して) | 0 ~ 100μm： ±1μm または指示値の ±2％以内 101μm ~ 600μm： 指示値の ±2％以内 |
| プローブ | 1 点定圧接触式 Ｖカット付 約φ5.5×92.5mm |
| 付属品 | 標準厚板、テスト用ゼロ板（鉄用） |
| 測定対象 | 鉄・鋼などの磁性金属素地上の塗装、ライニング、溶射膜、めっき（電解ニッケルめっきを除く）など小さい部位、狭い箇所など |
| サンコウ電子研究所 | |
| SWT-NEOシリーズ オプションプローブ SFe-0.6Pen |
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| 膜厚計(電磁・渦電流) SWT-NEO IIのカタログ | |
| 膜厚計(電磁・渦電流) SWT-NEO IIの取説 | |
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