膜厚計 SWT-8200II レンタル


下地:鉄、非鉄素地用
膜厚計 SWT-8200II
機材名称膜厚計
型番SWT-8200II
メーカーサンコウ電子研究所
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機材名称膜厚計
型番SWT-8200II
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膜厚計 SWT-8200IIのレンタル事例

  • 磁性、非磁性金属の被膜測定に

膜厚計 SWT-8200II【サンコウ電子研究所】の特徴

  • ・電磁式:0~2.50mm【測定範囲】
  • ・渦電流式:0~2.00mm【測定範囲】

膜厚計 SWT-8200II【サンコウ電子研究所】の仕様

測定範囲※ 接続プローブにより異なる
表示方式 グラフィックLCD(データ・メッセージ)
検量線校正 2 点校正式(ゼロ点・標準調整点)
検量線メモリ 10 本
測定値メモリ 10,000 点
データ転送 USB
統計機能 本体内蔵
付加機能 ●キー入力ロック ●オートパワーオフ(約 3 分)●測定モードの切替(ホールド/連続) ●表示分解能切替 ●検量線 校正値消去 ●上下限値設定
電源 単 3 乾電池 ×2  専用 AC アダプタ
使用温度 0~40℃(結露しないこと)
外形寸法 72(W)×30(H)×156(D)mm
本体重量 約200g
付属品 乾電池、収納ケース(ハード)、AC アダプタ、USB ケーブル(2.0m)、USB ドライバ(CD)
オプション 鉄素地用プローブ(Fe)、非鉄金属素地用プローブ(NFe)、SWT-RU 特定小電力無線専用受信器(8300II専用)


[オプション]厚物用プローブ(鉄素地用) Fe-20

説明 ・プローブの互換性により本体との自由な組み合わせで接続が可能。
・測定対象物に合わせて、鉄素地用 (電磁式) または、非鉄金属素地用 (渦電流式) を接続。
・微小片等の測定に適した高安定性プローブなど、用途や測定範囲によりプローブの選択が可能。
測定方式電磁誘導式
測定範囲0~20mm
表示分解能1μm:0~999μm
0.01mm:1~5mm
0.1mm:5~20mm
測定精度
(平滑面に対して垂直に測定)
0~3mm:±(5μm+指示値の3%)
3.01mm以上:指示値の±3%以内
プローブ1点定圧接触式、Vカット付
φ35×55mm
付属品標準厚板、テスト用ゼロ板 (鉄用)
測定対象鉄・鋼などの磁性金属素地上の厚物の測定物用
サンコウ電子研究所
厚物用プローブ(鉄素地用)
Fe-20
厚物用プローブ(鉄素地用) Fe-20のレンタル自動見積

[オプション]厚物用プローブ(非鉄素地用) Nfe-8

説明 ・プローブの互換性により本体との自由な組み合わせで接続が可能。
・測定対象物に合わせて、鉄素地用 (電磁式) または、非鉄金属素地用 (渦電流式) を接続。
・微小片等の測定に適した高安定性プローブなど、用途や測定範囲によりプローブの選択が可能。
測定方式渦電流式
測定範囲0~8.00mm
表示分解能1μm:0~999μm
0.01mm:1~8mm
測定精度
(平滑面に対して垂直に測定)
0~3mm:±(5μm+指示値の3%)
3.01mm以上:指示値の±3%以内
プローブ1点定圧接触式、Vカット付
φ35×59mm
付属品標準厚板、テスト用ゼロ板 (非鉄用)
測定対象アルミ、銅など非磁性金属素地上の絶縁性皮膜など、比較的厚物の測定物用
サンコウ電子研究所
厚物用プローブ(非鉄素地用)
Nfe-8
厚物用プローブ(非鉄素地用) Nfe-8のレンタル自動見積

[オプション]膜厚計SWTシリーズ オプションプローブ Fe-0.6Pen

説明 ・SWT-8000II、8200II、9000用の電磁式プローブです。狭い箇所、小さい部位の塗装厚測定用として使用します。
測定方式電磁誘導式
測定範囲0~600μm
表示分解能1μm:0~600μm
切替により 0.01μm:0~400μm、0.5μm:400~500μm
測定精度
(平滑面に対して垂直に測定)
0~100μm:±1μm または指示値の±2%以内
101μm~600μm:指示値の±2%以内
プローブ1点定圧接触式、Vカット付
φ5.6×94mm
付属品標準厚板、テスト用ゼロ板 (鉄用)
測定対象鉄・鋼などの磁性金属素地上の塗装、ライニングなど狭い箇所、小さい部位の塗膜厚測定用
サンコウ電子研究所
膜厚計SWTシリーズ オプションプローブ
Fe-0.6Pen
膜厚計SWTシリーズ オプションプローブ Fe-0.6Penのレンタル自動見積

膜厚計 SWT-8200IIのカタログ
膜厚計 SWT-8200IIの取説


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 1台で磁性、非磁性金属の被膜測定ができます。測定値のメモリー機能を有し、USB接続でパソコンへのデータ転送も可能です。.
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##### tan0322


 

  

 


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